Nanocontacts fabricated by Focused Ion Beam (FIB): characterisation and application to nanometre-sized materials,

Hernández, F (author)

1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona

Casals, O (author)

1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona

Vilà, A (author)

1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona

show more...

Morante, J. R (author)

1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona

Romano-Rodríguez, A (author)

1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona

Abid, M (author)

3Laboratoire de Physique des Matériaux Nanostructurés, École Polytechnique Fédérale de Lausanne, EPFL,

Abid, J.-P (author)

3Laboratoire de Physique des Matériaux Nanostructurés, École Polytechnique Fédérale de Lausanne, EPFL,

Valizadeh, Sima (author)

Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Experimentell fysik,Materialvetenskap,electronmicroscopy and nanoengineering,Elektronmikroskopi och nanoteknologi

Hjort, Klas (author)

Uppsala universitet,Institutionen för teknikvetenskaper,Experimentell fysik,Materialvetenskap

Collin, J.-P (author)

Jouati, A (author)

show less...

 (creator_code:org_t)

2005

2005

English.

In: Microscopy of Semiconducting Materials - MSMXIV (Oxford, U.K., April 11-14, 2005)..

Related links:

https://urn.kb.se/re...

show more...

https://urn.kb.se/re...

show less...

• Conference paper (peer-reviewed)