Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-124446" >
Exciton lifetime me...
Exciton lifetime measurements on single silicon quantum dots
-
- Sangghaleh, Fatemeh (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
- Bruhn, Benjamin (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
- Schmidt, Torsten (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
visa fler...
-
- Linnros, Jan (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2013-05-03
- 2013
- Engelska.
-
Ingår i: Nanotechnology. - : IOP Publishing. - 0957-4484 .- 1361-6528. ; 24:22, s. 225204-
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- We measured the exciton lifetime of single silicon quantum dots, fabricated by electron beam lithography, reactive ion etching and oxidation. The observed photoluminescence decays are of mono-exponential character with a large variation (5-45 mu s) from dot to dot, even for the same emission energy. We show that this lifetime variation may be the origin of the heavily debated non-exponential (stretched) decays typically observed for ensemble measurements.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Materialteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Materials Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas