Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-20484" >
DC field dependent ...
DC field dependent properties of Na0.5K0.5NbO3/SiO2/Si structures at millimeter-wave frequencies
-
- Abadei, S. (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Gevorgian, Spartak, 1948 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
Cho, C. R. (författare)
-
visa fler...
-
- Grishin, Alexander M. (författare)
- KTH,Mikroelektronik och informationsteknik, IMIT
-
Andreasson, J. (författare)
-
Lindback, T. (författare)
-
Grishin, Alex (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- AIP Publishing, 2001
- 2001
- Engelska.
-
Ingår i: Applied Physics Letters. - : AIP Publishing. - 0003-6951 .- 1077-3118. ; 78:13, s. 1900-1902
- Relaterad länk:
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://research.cha...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Dielectric properties of laser-ablated 0.5-mum-thick c-axis epitaxial Na0.5K0.5NbO3 films on high-resistivity (7.7 Omega cm) silicon SiO2/Si substrate are studied experimentally at frequencies up to 40 GHz. For measurements, planar 0.5-mum-thick gold electrodes (interdigital and straight slot) are photolithography defined on the top surface of Na0.5K0.5NbO3 films. The slot width between the electrodes is 2 or 4 mum. 13% capacitance change at 40 V dc bias and Q factor more than 15 are observed at 40 GHz, which makes the structure useful for applications in electrically tunable millimeter-wave devices.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)
Nyckelord
- microwave devices
- capacitors
- ferroelectrics
- quality
- films
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas