onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-258177"
Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-258177" > Flying-spot scannin...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Flying-spot scanning for the separate mapping of resistivity and minority-cariier lifetime in silicon
- Bleichner, H (författare)
- Nordlander, E (författare)
- Fiedler, G (författare)
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 1986
- 1986
- Engelska.
- Ingår i: Solid-State Electronics. - 0038-1101 .- 1879-2405. ; 29:8, s. 779-786
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Hitta via bibliotek
- Solid-State Electronics (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Bleichner, H
- Nordlander, E
- Fiedler, G
- Tove, PA
- Artiklar i publikationen
- Solid-State Elec ...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
