onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-45030"
Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-45030" > Measurements of Si ...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Measurements of Si ion stopping in amorphous silicon
-
- Whitlow, Harry J (författare)
- Uppsala universitet,Institutionen för materialvetenskap,ION PHYSICS
- Timmer, Heiko (författare)
- Elliman, Robert G (författare)
- visa fler...
- Weijers, Tessica D M (författare)
- Zhang, Yanwen (författare)
- Uribastera, Juan (författare)
- O´Connor, D John (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2002
- 2002
- Engelska.
- Ingår i: Nucl Instrum Methods Phys Res. ; B:190, s. 84-88
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Materialteknik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Materials Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- Materials science
- Teknisk materialvetenskap
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Nucl Instrum Methods Phys Res (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Whitlow, Harry J
- Timmer, Heiko
- Elliman, Robert ...
- Weijers, Tessica ...
- Zhang, Yanwen
- Uribastera, Juan
- visa fler...
- O´Connor, D John
- visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Materialteknik
- Artiklar i publikationen
- Nucl Instrum Met ...
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
