onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:4ce93a53-ace9-44b4-b1b9-1b0db56ab200"
Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:4ce93a53-ace9-44b4-b1b9-1b0db56ab200" > A High-Frequency Tr...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
A High-Frequency Transconductance Method for Characterization of High-k Border Traps in III-V MOSFETs
-
- Johansson, Sofia (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Institutionen för elektro- och informationsteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Department of Electrical and Information Technology,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH,Solid State Physics,Department of Physics,Faculty of Engineering, LTH
-
- Berg, Martin (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Institutionen för elektro- och informationsteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Electrical and Information Technology,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Persson, Karl-Magnus (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Institutionen för elektro- och informationsteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Department of Electrical and Information Technology,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH,Solid State Physics,Department of Physics,Faculty of Engineering, LTH
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2013
- 2013
- Engelska.
- Ingår i: IEEE Transactions on Electron Devices. - 0018-9383. ; 60:2, s. 776-781
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)
Nyckelord
- transconductance
- nanowire (NW)
- metal–oxide–semiconductor field-effect transistor (MOSFET)
- interface traps
- high-$k$
- frequency
- border traps
- InAs
- InGaAs
- Al2O3
- HfO2
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- IEEE Transactions on Electron Devices (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Johansson, Sofia
- Berg, Martin
- Persson, Karl-Ma ...
- Lind, Erik
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Elektroteknik oc ...
-
- NATURVETENSKAP
- NATURVETENSKAP
- och Fysik
- och Den kondenserade ...
- Artiklar i publikationen
- IEEE Transaction ...
- Av lärosätet
- Lunds universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
