SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:66fcfd0e-b1ac-44df-af6a-b2327e9ca8bc"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:66fcfd0e-b1ac-44df-af6a-b2327e9ca8bc" > Vertical Gate-All-A...

  • Vasen, T.Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited (författare)

Vertical Gate-All-Around Nanowire GaSb-InAs Core-Shell n-Type Tunnel FETs

  • Artikel/kapitelEngelska2019

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2019-01-17
  • Springer Science and Business Media LLC,2019

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:lup.lub.lu.se:66fcfd0e-b1ac-44df-af6a-b2327e9ca8bc
  • https://lup.lub.lu.se/record/66fcfd0e-b1ac-44df-af6a-b2327e9ca8bcURI
  • https://doi.org/10.1038/s41598-018-36549-zDOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype
  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype

Anmärkningar

  • Tunneling Field-Effect Transistors (TFET) are one of the most promising candidates for future low-power CMOS applications including mobile and Internet of Things (IoT) products. A vertical gate-all-around (VGAA) architecture with a core shell (C-S) structure is the leading contender to meet CMOS footprint requirements while simultaneously delivering high current drive for high performance specifications and subthreshold swing below the Boltzmann limit for low power operation. In this work, VGAA nanowire GaSb/InAs C-S TFETs are demonstrated experimentally for the first time with key device properties of subthreshold swing S = 40 mV/dec (Vd = 10 mV) and current drive up to 40 μA/wire (Vd = 0.3 V, diameter d = 50 nm) while dimensions including core diameter d, shell thickness and gate length are scaled towards CMOS requirements. The experimental data in conjunction with TCAD modeling reveal interface trap density requirements to reach industry standard off-current specifications.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Ramvall, P.Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited(Swepub:lu)ftf-per (författare)
  • Afzalian, A.Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited (författare)
  • Doornbos, G.Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited (författare)
  • Holland, M.Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited (författare)
  • Thelander, C.Lund University,Lunds universitet,NanoLund: Centre for Nanoscience,Annan verksamhet, LTH,Lunds Tekniska Högskola,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Other operations, LTH,Faculty of Engineering, LTH,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-cth (författare)
  • Dick, K. A.Lund University,Lunds universitet,NanoLund: Centre for Nanoscience,Annan verksamhet, LTH,Lunds Tekniska Högskola,Fasta tillståndets fysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Centrum för analys och syntes,Kemiska institutionen,Other operations, LTH,Faculty of Engineering, LTH,Solid State Physics,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH,Centre for Analysis and Synthesis,Department of Chemistry,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)ftf-kdi (författare)
  • Wernersson, L. E.Lund University,Lunds universitet,Nanoelektronik,Forskargrupper vid Lunds universitet,Nano Electronics,Lund University Research Groups(Swepub:lu)ftf-lwe (författare)
  • Passlack, M.Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited (författare)
  • Taiwan Semiconductor Manufacturing Company LimitedNanoLund: Centre for Nanoscience (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Scientific Reports: Springer Science and Business Media LLC9:12045-2322

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy