Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:891585d0-ca90-4395-8de1-9eecd2aae6ac" >
The thickness of na...
The thickness of native oxides on aluminum alloys and single crystals
-
- Evertsson, Jonas (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Bertram, Florian (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Zhang, Fan (författare)
- KTH,Yt- och korrosionsvetenskap
-
visa fler...
-
- Rullik, Lisa (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Merte, Lindsay (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Shipilin, Mikhail (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Soldemo, Markus (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
- Ahmadi, Sareh (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
- Vinogradov, N. (författare)
- ESRF, France
-
- Carla, F. (författare)
- ESRF, France
-
- Weissenrieder, Jonas (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
- Götelid, Mats (författare)
- KTH,Materialfysik, MF
-
- Pan, Jinshan (författare)
- KTH,Yt- och korrosionsvetenskap
-
- Mikkelsen, Anders (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Nilsson, J. -O. (författare)
- Sapa Technology, Sweden
-
- Lundgren, Edvin (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- Elsevier BV, 2015
- 2015
- Engelska.
-
Ingår i: Applied Surface Science. - : Elsevier BV. - 1873-5584 .- 0169-4332. ; 349, s. 826-832
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10...
-
visa fler...
-
https://lup.lub.lu.s...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://urn.kb.se/re...
-
https://urn.kb.se/re...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- We present results from measurements of the native oxide film thickness on four different industrial aluminum alloys and three different aluminum single crystals. The thicknesses were determined using X-ray reflectivity, X-ray photoelectron spectroscopy, and electrochemical impedance spectroscopy. In addition, atomic force microscopy was used for micro-structural studies of the oxide surfaces. The reflectivity measurements were performed in ultra-high vacuum, vacuum, ambient, nitrogen and liquid water conditions. The results obtained using X-ray reflectivity and X-ray photoelectron spectroscopy demonstrate good agreement. However, the oxide thicknesses determined from the electrochemical impedance spectroscopy show a larger discrepancy from the above two methods. In the present contribution the reasons for this discrepancy are discussed. We also address the effect of the substrate type and the presence of water on the resultant oxide thickness.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences (hsv//eng)
- NATURVETENSKAP -- Kemi -- Materialkemi (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Chemical Sciences -- Materials Chemistry (hsv//eng)
Nyckelord
- Aluminum alloy
- Aluminum single crystal
- Thin native oxide film
- thickness
- Electrochemical impedance spectroscopy
- X-ray reflectivity
- X-ray photoelectron spectroscopy
- Physics
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Evertsson, Jonas
-
Bertram, Florian
-
Zhang, Fan
-
Rullik, Lisa
-
Merte, Lindsay
-
Shipilin, Mikhai ...
-
visa fler...
-
Soldemo, Markus
-
Ahmadi, Sareh
-
Vinogradov, N.
-
Carla, F.
-
Weissenrieder, J ...
-
Götelid, Mats
-
Pan, Jinshan
-
Mikkelsen, Ander ...
-
Nilsson, J. -O.
-
Lundgren, Edvin
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- NATURVETENSKAP
-
NATURVETENSKAP
-
och Fysik
-
- NATURVETENSKAP
-
NATURVETENSKAP
-
och Kemi
-
och Materialkemi
- Artiklar i publikationen
-
Applied Surface ...
- Av lärosätet
-
Lunds universitet
-
Kungliga Tekniska Högskolan
-
Karlstads universitet