Source reconstruction by far-field data for imaging of defects in frequency selective radomes

Persson, KristinLund University,Lunds universitet,Institutionen för elektro- och informationsteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Electrical and Information Technology,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH (författare)

In this paper, an inverse source reconstruction method with great potential in radome diagnostics is presented. Defects, e.g., seams in large radomes, and lattice dislocations in frequency selective surface (FSS) radomes, are inevitable, and their electrical effects demand analysis. Here, defects in a frequency selective radome are analyzed with a method based on an integral formulation. Several far-field measurement series, illuminating different parts of the radome wall at 9.35 GHz, are employed to determine the equivalent surface currents and image the disturbances on the radome surface.

Gustafsson, MatsLund University,Lunds universitet,Institutionen för elektro- och informationsteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Electrical and Information Technology,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)tde-mgu (författare)
Kristensson, GerhardLund University,Lunds universitet,Institutionen för elektro- och informationsteknik,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Department of Electrical and Information Technology,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH(Swepub:lu)tde-gkr (författare)
Widenberg, Björn (författare)
Institutionen för elektro- och informationsteknikInstitutioner vid LTH (creator_code:org_t)

Av författaren/redakt...: Persson, Kristin; Gustafsson, Mats; Kristensson, Ger ...; Widenberg, Björn

Om ämnet

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.