Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0" >
Hotspot test struct...
Hotspot test structures for evaluating carbon nanotube microfin coolers and graphene-like heat spreaders
-
- Jeppson, Kjell, 1947 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Bao, Jie (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University
-
- Huang, S. (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University
-
visa fler...
-
- Zhang, Yong, 1982 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Sun, Shuangxi, 1986 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Fu, Yifeng, 1984 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Liu, Johan, 1960 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2016
- 2016
- Engelska.
-
Ingår i: 29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama, Japan, Mar 28-31, 2016. - 1071-9032. ; 2016-May, s. 32-36
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10...
-
visa fler...
-
https://doi.org/10.1...
-
https://research.cha...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The design, fabrication, and use of a hotspot-producing and temperature-sensing test structure for evaluating the thermal properties of carbon nanotubes, graphene and boron nitride for cooling of electronic devices in applications like 3D integrated chip-stacks, power amplifiers and light-emitting diodes is described. The test structure is a simple meander-shaped metal resistor serving both as the hotspot and the temperature thermo-meter. By use of this test structure, the influence of emerging materials like those mentioned above on the temperature of the hotspot has been evaluated with good accuracy).
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Nyckelord
- test structures
- resistance temperature detectors
- hotspots
- graphene
- heat spreaders
- boron nitride
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Jeppson, Kjell, ...
-
Bao, Jie
-
Huang, S.
-
Zhang, Yong, 198 ...
-
Sun, Shuangxi, 1 ...
-
Fu, Yifeng, 1984
-
visa fler...
-
Liu, Johan, 1960
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
-
29th IEEE Intern ...
- Av lärosätet
-
Chalmers tekniska högskola