Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:50cae351-2862-456b-8e9f-d96d1f3e2759" >
Stress and recovery...
Stress and recovery transients in bipolar transistors and MOS structures
-
- Ingvarson, Fredrik, 1972 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Ragnarsson, Lars-Åke, 1968 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
- Lundgren, Per, 1968 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa fler...
-
- Jeppson, Kjell, 1947 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 1999
- 1999
- Engelska.
-
Ingår i: Proceedings of the 1999 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures. ; , s. 173-178
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)