SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:8cecf0e7-86e3-484e-8db5-aa651d32e620"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:8cecf0e7-86e3-484e-8db5-aa651d32e620" > Symmetrical modelin...

Symmetrical modeling of GaN HEMTS

Prasad, Ankur, 1987 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Sweden
Fager, Christian, 1974 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Sweden
Thorsell, Mattias, 1982 (författare)
Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Chalmers University of Technology, Sweden
visa fler...
Andersson, Christer, 1982 (författare)
Mitsubishi Electric Corporation
Yhland, Klas, 1964 (författare)
RISE,SP Sveriges Tekniska Forskningsinstitut AB,Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Kommunikation,Chalmers University of Technology, Sweden
Andersson, Cristina M. (författare)
Mitsubishi, Japan
visa färre...
 (creator_code:org_t)
ISBN 9781479936229
2014
2014
Engelska.
Ingår i: Technical Digest - IEEE Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium, CSIC. - 1550-8781. - 9781479936229
  • Konferensbidrag (refereegranskat)
Abstract Ämnesord
Stäng  
  • This paper presents a symmetrical small signal model for GaN HEMTs valid for both positive and negative Vds. The model takes advantage of the intrinsic symmetry of the devices typically used for switches. The parameters of the model are extracted using a new symmetrical optimization based extraction method, optimizing simultaneously for both positive and negative drain-source bias points. This ensures a symmetrical small signal model with lower modeling error. The small signal model can be further used to simplify the development of a large-signal model. The small signal model is validated with measured S- parameters of a commercial GaN HEMT.

Ämnesord

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER  -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
ENGINEERING AND TECHNOLOGY  -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)

Nyckelord

Semiconductor device modeling
Parameters extraction
Gallium Nitride
Modeling
HEMTs

Publikations- och innehållstyp

kon (ämneskategori)
ref (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy