SwePub
Sök i SwePub databas

  Utökad sökning

Träfflista för sökning "id:"swepub:oai:research.chalmers.se:a499f363-14be-481f-a7e8-8397d4f0afff" "

Sökning: id:"swepub:oai:research.chalmers.se:a499f363-14be-481f-a7e8-8397d4f0afff"

  • Resultat 1-1 av 1
Sortera/gruppera träfflistan
   
NumreringReferensOmslagsbildHitta
1.
  • Raeissi, Bahman, 1979, et al. (författare)
  • Multiparameter Admittance Spectroscopy as a Diagnostic Tool for Interface States at Oxide/Semiconductor Interfaces
  • 2010
  • Ingår i: IEEE Transactions on Electron Devices. - 1557-9646 .- 0018-9383. ; 57:7, s. 1702-1705
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)abstract
    • Multiparameter admittance spectroscopy (MPAS) measurements have been performed on Al/HfO2/SiOx/Si structures before and after post metallization annealing (PMA). Contour plots of conductance data as a function of the logarithm of inverted signal frequency and applied voltage as obtained by MPAS are compared with standard capacitance versus voltage (C–V) data demonstrating the advantage of MPAS as a diagnostic tool. MPAS reveals more detailed properties of oxide/semiconductor interface states and renders measured data for better perceptiveness.
  •  
Skapa referenser, mejla, bekava och länka
  • Resultat 1-1 av 1
Typ av publikation
tidskriftsartikel (1)
Typ av innehåll
refereegranskat (1)
Författare/redaktör
Engström, Olof, 1943 (1)
Raeissi, Bahman, 197 ... (1)
Piscator, Johan, 197 ... (1)
Lärosäte
Chalmers tekniska högskola (1)
Språk
Engelska (1)
Forskningsämne (UKÄ/SCB)
Naturvetenskap (1)
Teknik (1)
År
2010 (1)

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy