Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:hig-27867" >
Characterization of...
-
Alizadeh, MahmoudKTH,Högskolan i Gävle,Elektronik,Teknisk informationsvetenskap,Department of Electronics, Mathematics and Natural Sciences, University of Gävle (HiG), Gävle, Sweden
(författare)
Characterization of Volterra Kernels for RF Power Amplifiers Using a Two-Tone Signal and a Large-Signal
- Artikel/kapitelEngelska2018
Förlag, utgivningsår, omfång ...
-
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE),2018
-
printrdacarrier
Nummerbeteckningar
-
LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:hig-27867
-
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:hig:diva-27867URI
-
https://doi.org/10.1109/ICComm.2018.8430119DOI
-
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-234489URI
Kompletterande språkuppgifter
-
Språk:engelska
-
Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
Klassifikation
-
Ämneskategori:ref swepub-contenttype
-
Ämneskategori:kon swepub-publicationtype
Anmärkningar
-
QC 20180907
-
The 3rd-order Volterra kernels of a radio frequency (RF) power amplifier (PA) are characterized using a large-signal and a two-tone probing-signal. In this technique, the magnitude and phase asymmetries of the kernels of the PA excited by the probing-signal are analyzed in different amplitude regions of the large-signal. The device under test is a class-AB PA operating at 2.14 GHz. The maximum sweeping frequency space of the probing-signal is 20 MHz. The results indicate that the Volterra kernels of the PA show different behaviors (frequency dependency and asymmetry) in different regions.
Ämnesord och genrebeteckningar
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
-
Rönnow, DanielHögskolan i Gävle,Elektronik(Swepub:hig)dalrow
(författare)
-
Händel, PeterKTH,Teknisk informationsvetenskap,Department of information science and engineering Royal Institute of Technology (KTH), Stockholm, Sweden(Swepub:kth)u1htctiy
(författare)
-
Högskolan i GävleElektronik
(creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
-
Ingår i:2018 International Conference on Communications, COMM 2018 - Proceedings: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), s. 351-356978153862351097815386235039781538623497
Internetlänk
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas