Model-Based Parametric Study of Surface-Breaking Defect Characterization Using Half-Skip Total Focusing Method

↓ Direkt till sidans innehåll
↓ Direkt till sidans sekundära innehåll (sidomenyn)

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:ltu-97004" > Model-Based Paramet...

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

Lei, Xiangyu,1992Department of Industrial and Materials Science (IMS), Chalmers University of Technology, 41296, Gothenburg, Sweden,Department of Industrial and Materials Science (IMS), Chalmers University of Technology, Gothenburg (SWE),Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology (författare)

Model-Based Parametric Study of Surface-Breaking Defect Characterization Using Half-Skip Total Focusing Method

Artikel/kapitelEngelska2023

Förlag, utgivningsår, omfång ...

Springer Nature,2023
electronicrdacarrier

Nummerbeteckningar

LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:ltu-97004
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ltu:diva-97004URI
https://doi.org/10.1007/s10921-023-00949-7DOI
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:hv:diva-19987URI
https://research.chalmers.se/publication/535613URI

Kompletterande språkuppgifter

Språk:engelska
Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

SwePubSwePub

Klassifikation

Ämneskategori:ref swepub-contenttype
Ämneskategori:art swepub-publicationtype

Anmärkningar

Validerad;2023;Nivå 2;2023-05-04 (hanlid)
CC BY 4.0
As the demand of structural integrity in manufacturing industries is increasing, the ultrasonic array technique has drawn more attention thanks to its inspection flexibility and versatility. By taking advantage of the possibility of individual triggering of each array element, full matrix capture (FMC) data acquisition strategy has been developed that contains the entire information of an inspection scenario. Total focusing method (TFM) as one of the ultrasonic imaging algorithms, is preferably applied to FMC dataset since it uses all information in FMC to synthetically focus the sound energy at every image pixel in the region of interest. Half-skip TFM (HSTFM) is proposed in multi-mode TFM imaging that involves a backwall reflection wave path, so that the defect profile could be reconstructed for accurate defect characterization. In this paper, a method involving Snell’s law-based wave mode conversion is proposed to account for more reasonable wave propagation time when wave mode conversion happens at backwall reflection in HSTFM. A series of model based simulations (in software simSUNDT) are performed for parametric studies, with the intention of investigating the capability of defect characterization using HSTFM with varying tilt angle and relative position of surface-breaking notch to array probe. The results show that certain TFM modes could help with defect characterization, but the effectiveness is limited with varying defect features. It is inappropriate to address a certain mode for all characterization perspectives but rather a combination, i.e., multi-mode TFM, should be adopted for possible interpretation and characterization of defect features.

Ämnesord och genrebeteckningar

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Elektroteknik och elektronik Annan elektroteknik och elektronik hsv//swe
ENGINEERING AND TECHNOLOGY Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering hsv//eng
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Materialteknik Bearbetnings-, yt- och fogningsteknik hsv//swe
ENGINEERING AND TECHNOLOGY Materials Engineering Manufacturing, Surface and Joining Technology hsv//eng
NATURVETENSKAP Fysik Annan fysik hsv//swe
NATURAL SCIENCES Physical Sciences Other Physics Topics hsv//eng
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Maskinteknik Strömningsmekanik och akustik hsv//swe
ENGINEERING AND TECHNOLOGY Mechanical Engineering Fluid Mechanics and Acoustics hsv//eng
NATURVETENSKAP Data- och informationsvetenskap Datorseende och robotik hsv//swe
NATURAL SCIENCES Computer and Information Sciences Computer Vision and Robotics hsv//eng
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Medicinteknik Medicinsk bildbehandling hsv//swe
ENGINEERING AND TECHNOLOGY Medical Engineering Medical Image Processing hsv//eng
Ultrasonic array
Defect characterization
Total focusing method
Simulation
simSUNDT
Signalbehandling
Signal Processing
Production Technology

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

Wirdelius, HåkanHögskolan Väst,Avdelningen för avverkande och additativa tillverkningsprocesser (AAT),KAMPT,University West(Swepub:cth)hakwir (författare)
Carlson, Johan E.,1973-Luleå tekniska universitet,Signaler och system,Division of Signals and Systems, Luleå University of Technology, 97187, Luleå (SWE),Luleå tekniska universitet (LTU),Luleå University of Technology (LTU)(Swepub:ltu)johanc (författare)
Department of Industrial and Materials Science (IMS), Chalmers University of Technology, 41296, Gothenburg, SwedenDepartment of Industrial and Materials Science (IMS), Chalmers University of Technology, Gothenburg (SWE) (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

Ingår i:Journal of nondestructive evaluation: Springer Nature42:20195-92981573-4862

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Journal of nondestructive evaluation (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

1 av 1
Föregående post
Nästa post
Till träfflistan

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...: Lei, Xiangyu, 19 ...; Wirdelius, Håkan; Carlson, Johan E ...

Om ämnet

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Elektroteknik oc ...; och Annan elektrotek ...

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Materialteknik; och Bearbetnings yt ...

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Fysik; och Annan fysik

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Maskinteknik; och Strömningsmekani ...

NATURVETENSKAP: NATURVETENSKAP; och Data och informa ...; och Datorseende och ...

TEKNIK OCH TEKNOLOGIER: TEKNIK OCH TEKNO ...; och Medicinteknik; och Medicinsk bildbe ...

Artiklar i publikationen: Journal of nonde ...

Av lärosätet: Luleå tekniska universitet; Högskolan Väst; Chalmers tekniska högskola

Sök utanför SwePub

Sök vidare i:: Google; Google Book Search; Google Scholar

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

LIBRIS.kb.se