SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

onr:"swepub:oai:DiVA.org:mdh-4146"
 

Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:mdh-4146" > Component Testing i...

  • Eldh, SigridMälardalens högskola,Institutionen för datavetenskap och elektronik (författare)

Component Testing is Not Enough - A Study of Software Faults in Telecom Middleware

  • Artikel/kapitelEngelska2007

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Berlin, Heidelberg :Springer,2007
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:mdh-4146
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:mdh:diva-4146URI
  • https://doi.org/10.1007/978-3-540-73066-8_6DOI
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:mdh:diva-7016URI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:kap swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • 19th IFIP TC6/WG6.1 International Conference on Testing of Communicating Systems, Testcom 2007, and 7th International Workshop on Formal Approaches to Testing Software, FATES 2007; Tallinn ;26 June 2007 through 29 June 2007
  • The interrelationship between software faults and failures is quite intricate and obtaining a meaningful characterization of it would definitely help the testing community in deciding on efficient and effective test strategies. Towards this objective, we have investigated and classified failures observed in a large complex telecommunication industry middleware system during 2003-2006. In this paper, we describe the process used in our study for tracking faults from failures along with the details of failure data. We present the distribution and frequency of the failures along with some interesting findings unravelled while analyzing the origins of these failures. Firstly, though "simple" faults happen, together they account for only less than 10%. The majority of faults come from either missing code or path, or superfluous code, which are all faults that manifest themselves for the first time at integration/system level; not at component level. These faults are more frequent in the early versions of the software, and could very well be attributed to the difficulties in comprehending and specifying the context (and adjacent code) and its dependencies well enough, in a large complex system with time to market pressures. This exposes the limitations of component testing in such complex systems and underlines the need for allocating more resources for higher level integration and system testing.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Punnekkat, SasikumarMälardalens högskola,Institutionen för datavetenskap och elektronik(Swepub:mdh)spt01 (författare)
  • Hansson, HansMälardalens högskola,Institutionen för datavetenskap och elektronik(Swepub:mdh)hhn02 (författare)
  • Jönsson, PeterMälardalens högskola,Institutionen för datavetenskap och elektronik (författare)
  • Mälardalens högskolaInstitutionen för datavetenskap och elektronik (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Lecture Notes in Computer Science, vol. 4581Berlin, Heidelberg : Springer, s. 74-899783540730651

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Eldh, Sigrid
Punnekkat, Sasik ...
Hansson, Hans
Jönsson, Peter
Om ämnet
TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
TEKNIK OCH TEKNO ...
och Elektroteknik oc ...
och Datorsystem
Artiklar i publikationen
Lecture Notes in ...
Av lärosätet
Mälardalens universitet

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy