onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-257821"
Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:uu-257821" > Oxygen content and ...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Oxygen content and depth profiling in silicon surface technology studied by the 16 0(aa)160 resonance at 3.015 MeV
- Possnert, Göran (författare)
- Fahlander, C (författare)
- Orre, B (författare)
- visa fler...
- Norde, Herman (författare)
- Petersson, CS (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 1978
- 1978
- Engelska.
- Ingår i: Physica Scripta. - 0031-8949 .- 1402-4896. ; 18, s. 410-
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Possnert, Göran
- Fahlander, C
- Orre, B
- Norde, Herman
- Petersson, CS
- Tove, PA
- Artiklar i publikationen
- Physica Scripta
- Av lärosätet
- Uppsala universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
