Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:76d1b721-d3f5-47b7-97dd-4c48466c113d" >
X-Ray Analysis: Ele...
X-Ray Analysis: Elemental Trace Analysis at the 10-12 g Level
-
- Johansson, Thomas B (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Internationella miljöinstitutet,Universitetets särskilda verksamheter,The International Institute for Industrial Environmental Economics,University Specialised Centres
-
- Akselsson, Roland (författare)
- Lund University,Lunds universitet,Ergonomi och aerosolteknologi,Institutionen för designvetenskaper,Institutioner vid LTH,Lunds Tekniska Högskola,Ergonomics and Aerosol Technology,Department of Design Sciences,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
Johansson, Sven A E (författare)
-
(creator_code:org_t)
- 1970
- 1970
- Engelska.
-
Ingår i: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors, and Associated Equipment. - 0167-5087. ; 84:1, s. 141-143
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10... (free)
-
visa fler...
-
https://lup.lub.lu.s...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Using protons in the MeV region as excitation source and a high resolution Si(Li)-detector, X-ray analysis is capable of detecting many elements at the 10−12 g level simultaneously.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Subatomär fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Subatomic Physics (hsv//eng)
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Maskinteknik -- Produktionsteknik, arbetsvetenskap och ergonomi (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Mechanical Engineering -- Production Engineering, Human Work Science and Ergonomics (hsv//eng)
Nyckelord
- PIXE
- particle induced X-ray emission analysis
- trace element analysis
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas