onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:8e99c8a4-87d6-4c85-b531-50690f26989f"
Sökning: onr:"swepub:oai:lup.lub.lu.se:8e99c8a4-87d6-4c85-b531-50690f26989f" > Combining Nanofocus...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Combining Nanofocused X-Rays with Electrical Measurements at the NanoMAX Beamline
-
- Chayanun, Lert (författare)
- Lund University,Lunds universitet,NanoLund: Centre for Nanoscience,Annan verksamhet, LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Other operations, LTH,Faculty of Engineering, LTH,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Hammarberg, Susanna (författare)
- Lund University,Lunds universitet,NanoLund: Centre for Nanoscience,Annan verksamhet, LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Other operations, LTH,Faculty of Engineering, LTH,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
-
- Dierks, Hanna (författare)
- Lund University,Lunds universitet,NanoLund: Centre for Nanoscience,Annan verksamhet, LTH,Lunds Tekniska Högskola,Synkrotronljusfysik,Fysiska institutionen,Institutioner vid LTH,Other operations, LTH,Faculty of Engineering, LTH,Synchrotron Radiation Research,Department of Physics,Departments at LTH,Faculty of Engineering, LTH
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2019-08-20
- 2019
- Engelska.
- Ingår i: Crystals. - : MDPI AG. - 2073-4352. ; 9:8
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The advent of nanofocused X-ray beams has allowed the study of single nanocrystals and complete nanoscale devices in a nondestructive manner, using techniques such as scanning transmission X-ray microscopy (STXM), X-ray fluorescence (XRF) and X-ray diffraction (XRD). Further insight into semiconductor devices can be achieved by combining these techniques with simultaneous electrical measurements. Here, we present a system for electrical biasing and current measurement of single nanostructure devices, which has been developed for the NanoMAX beamline at the fourth-generation synchrotron, MAX IV, Sweden. The system was tested on single InP nanowire devices. The mechanical stability was sufficient to collect scanning XRD and XRF maps with a 50 nm diameter focus. The dark noise of the current measurement system was about 3 fA, which allowed fly scan measurements of X-ray beam induced current (XBIC) in single nanowire devices.
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Acceleratorfysik och instrumentering (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Accelerator Physics and Instrumentation (hsv//eng)
- NATURVETENSKAP -- Fysik -- Den kondenserade materiens fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences -- Condensed Matter Physics (hsv//eng)
Nyckelord
- Nanowire
- Scanning X-ray diffraction (XRD)
- X-ray beam induced current (XBIC)
Publikations- och innehållstyp
- art (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Chayanun, Lert
- Hammarberg, Susa ...
- Dierks, Hanna
- Otnes, Gaute
- Björling, Alexan ...
- Borgström, Magnu ...
- visa fler...
- Wallentin, Jespe ...
- visa färre...
- Om ämnet
-
- NATURVETENSKAP
- NATURVETENSKAP
- och Fysik
- och Acceleratorfysik ...
-
- NATURVETENSKAP
- NATURVETENSKAP
- och Fysik
- och Den kondenserade ...
- Artiklar i publikationen
- Crystals
- Av lärosätet
- Lunds universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
