Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:2ff90f26-a220-45a8-83d0-963bcfb92958" >
Electrical properti...
Electrical properties of LaLuO3/Si(100) structures prepared by molecular beam deposition
-
- Gomeniuk, Y. Y (författare)
- National Academy of Sciences in Ukraine
-
- Gomieniuk, Y. V. (författare)
- National Academy of Sciences in Ukraine
-
- Nazarov, A. N. (författare)
- National Academy of Sciences in Ukraine
-
visa fler...
-
- Raeissi, Bahman, 1979 (författare)
- Tyndall National Institute at National University of Ireland, Cork
-
- Cherkaoui, K. (författare)
- Tyndall National Institute at National University of Ireland, Cork
-
- Monaghan, S (författare)
- Tyndall National Institute at National University of Ireland, Cork
-
Gottlob, H. D. B. (författare)
-
Schmidt, M. (författare)
-
- Schubert, J. (författare)
- Forschungszentrum Jülich GmbH
-
- Lopes, J.M.J (författare)
- Forschungszentrum Jülich GmbH
-
- Engström, Olof, 1943 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- ISBN 9781566778220
- The Electrochemical Society, 2010
- 2010
- Engelska.
-
Ingår i: ECS Transactions. - : The Electrochemical Society. - 1938-5862 .- 1938-6737. - 9781566778220 ; 33:3, s. 221-227
- Relaterad länk:
-
http://dx.doi.org/10...
-
visa fler...
-
https://research.cha...
-
https://doi.org/10.1...
-
visa färre...
Abstract
Ämnesord
Stäng
- The paper presents the results of electrical characterization in the wide temperature range (120-320 K) of the interface and bulk properties of high-k LaLuO3 dielectric deposited by molecular beam deposition (MBD) on silicon substrate. The energy distribution of interface state density is presented and typical maxima of 1.2×1011 and 2.5×10 11 eV-1 cm-2 were found at about 0.25-0.3 eV from the silicon valence band. The charge carrier transport through the dielectric at the forward bias was found to occur via Poole-Frenkel mechanism, while variable range hopping conduction (Mott's law) controls the current at the reverse bias.
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik -- Annan elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering -- Other Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Gomeniuk, Y. Y
-
Gomieniuk, Y. V.
-
Nazarov, A. N.
-
Raeissi, Bahman, ...
-
Cherkaoui, K.
-
Monaghan, S
-
visa fler...
-
Gottlob, H. D. B ...
-
Schmidt, M.
-
Schubert, J.
-
Lopes, J.M.J
-
Engström, Olof, ...
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Elektroteknik oc ...
-
och Annan elektrotek ...
- Artiklar i publikationen
-
ECS Transactions
- Av lärosätet
-
Chalmers tekniska högskola