Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0" >
Hotspot test struct...
-
Jeppson, Kjell,1947Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
(författare)
Hotspot test structures for evaluating carbon nanotube microfin coolers and graphene-like heat spreaders
- Artikel/kapitelEngelska2016
Förlag, utgivningsår, omfång ...
Nummerbeteckningar
-
LIBRIS-ID:oai:research.chalmers.se:4dadbf24-99ea-428a-9ee2-a2e8a85b11b0
-
https://doi.org/10.1109/ICMTS.2016.7476169DOI
-
https://research.chalmers.se/publication/231937URI
Kompletterande språkuppgifter
-
Språk:engelska
-
Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
Klassifikation
-
Ämneskategori:kon swepub-publicationtype
-
Ämneskategori:ref swepub-contenttype
Anmärkningar
-
The design, fabrication, and use of a hotspot-producing and temperature-sensing test structure for evaluating the thermal properties of carbon nanotubes, graphene and boron nitride for cooling of electronic devices in applications like 3D integrated chip-stacks, power amplifiers and light-emitting diodes is described. The test structure is a simple meander-shaped metal resistor serving both as the hotspot and the temperature thermo-meter. By use of this test structure, the influence of emerging materials like those mentioned above on the temperature of the hotspot has been evaluated with good accuracy).
Ämnesord och genrebeteckningar
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
-
Bao, JieChalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University
(författare)
-
Huang, S.Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology,Shanghai University
(författare)
-
Zhang, Yong,1982Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)yongz
(författare)
-
Sun, Shuangxi,1986Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)shuangxi
(författare)
-
Fu, Yifeng,1984Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)yifeng
(författare)
-
Liu, Johan,1960Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology(Swepub:cth)jliu
(författare)
-
Chalmers tekniska högskolaShanghai University
(creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
-
Ingår i:29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama, Japan, Mar 28-31, 20162016-May, s. 32-361071-9032
Internetlänk
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas
- Av författaren/redakt...
-
Jeppson, Kjell, ...
-
Bao, Jie
-
Huang, S.
-
Zhang, Yong, 198 ...
-
Sun, Shuangxi, 1 ...
-
Fu, Yifeng, 1984
-
visa fler...
-
Liu, Johan, 1960
-
visa färre...
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
-
TEKNIK OCH TEKNO ...
-
och Elektroteknik oc ...
- Artiklar i publikationen
-
29th IEEE Intern ...
- Av lärosätet
-
Chalmers tekniska högskola