Sökning: onr:"swepub:oai:research.chalmers.se:6535fd5b-0161-47ba-bce6-c8d267cb31a6" >
A procedure for cha...
A procedure for characterizing the BJT base resistance and Early voltages utilizing a dual base transistor test structure
-
- Ingvarson, Fredrik, 1972 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
Linder, Martin (författare)
-
- Jeppson, Kjell, 1947 (författare)
- Chalmers tekniska högskola,Chalmers University of Technology
-
visa fler...
-
Zhang, Shi-Li (författare)
-
Grahn, Jan (författare)
-
Östling, Mikael (författare)
-
visa färre...
-
(creator_code:org_t)
- 2001
- 2001
- Engelska.
-
Ingår i: Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures. ; , s. 31-36
- Relaterad länk:
-
https://research.cha...
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER -- Elektroteknik och elektronik (hsv//swe)
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY -- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering (hsv//eng)
Publikations- och innehållstyp
- kon (ämneskategori)
- ref (ämneskategori)