UDK:539.374
Sökning: UDK:539.374 > Computed electron m...
- 35 av 86
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head et al.
- Head, A. K. (medarbetare)
- ISBN 0720417570
- Amsterdam : North-Holland, 1973
- Engelska 400 s.
- Serie: Defects in crystalline solids, 0070-3230 ; 7
- swepub:Mat__t
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- Metals -- Defects -- Data processing. (LCSH)
- Elektronmikroskopi : materialundersökningar
Publikations- och innehållstyp
- 518.5:548.4 (UDK)
- 539.374 (UDK)
- 548.4 (UDK)
- 548.74 (UDK)
- 620.187 (UDK)
Hitta via bibliotek
- Computed electron micrographs and defect identification / (Sök publikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 35 av 86
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Head, A. K.
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
