SAB:Uccd
Sökning: SAB:Uccd > Semiconductor measu...
- 36 av 2684
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975] : surface analysis for silicon devices / A. George Lieberman [ed.].
- Lieberman, A. George (redaktör/utgivare)
- Washington, 1976
- Engelska 239 s.
- swepub:Mat__t
Ämnesord
Stäng
Publikations- och innehållstyp
- 537.622 028 7 (DDC)
- QC 611
- TK 6650
- Uccd (kssb/8 (machine generated))
Till lärosätets databas
- 36 av 2684
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Lieberman, A. Ge ...
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
