SAB:Uccd
Sökning: SAB:Uccd > Semiconductor measu...
- 38 av 2684
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology The design, testing, and analysis of a comprehensive test pattern for measuring CMOS/SOS process performance and control / Loren W. Linholm.
- Linholm, Loren W. (medarbetare)
- Washington, 1981
- Engelska 142 s.
- swepub:Mat__t
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Publikations- och innehållstyp
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
- 537.622 028 7 (DDC)
- Uccd (kssb/8 (machine generated))
Till lärosätets databas
- 38 av 2684
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Linholm, Loren W ...
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
