Sökning: onr:"99795" > Semiconductor measu...
Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
---|---|---|
000 | 01595cam a22003737a 4500 | |
001 | 99795 | |
003 | SE-LIBR | |
005 | 20180604102444.0 | |
008 | 011211s1982 xxu|||||||||||000 0|eng|c | |
035 | 9 990375373X | |
040 | a Te a | |
041 | a eng | |
080 | a 621.315.592(021) | |
080 | a 53.08(021) | |
082 | 4 | a 537.622 028 7 |
084 | a Uccd2 kssb/8 (machine generated) | |
245 | 1 0 | a Semiconductor measurement technologyp Interlaboratory study on linewidth measurments for antireflective chromium photomasks /c John M. Jerke .. |
264 | 1 | a Washington,c 1982 |
300 | a 183 s.b diagr., ill., tab. | |
599 | a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer | |
650 | 4 | a Halvledare: elektroteknik |
700 | 1 | a Jerke, John M.4 oth |
740 | 0 | a Interlaboratory study on linewidth measurments for antireflective chromium photomasks |
772 | 0 0 | t Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 9900958608 |
887 | a {"@id":"5ng185ch1vrj7cj","modified":"2018-06-04T10:24:44.649+02:00","checksum":"70240906468"}2 librisxl | |
841 | 5 La x ab 020110||0000||||4000||||||000000e u | |
080 | 5 La 621.315.592(021) | |
080 | 5 La 53.08(021) | |
650 | 4 | 5 La Halvledare: elektroteknik |
650 | 4 | 5 La Mätteknik |
852 | 5 Lb Lh pPj 3521:400 | |
852 | 5 L8 1.1\cb Lh pPj 3521:, 400:74 | |
866 | 5 La 1974-x Vissa delar specificerade | |
887 | 5 La {"@id":"glr2vphm03cmc99","modified":"2003-01-23T16:34:28+01:00","checksum":"40564237170"}2 librisxl |
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.