SAB:Uccd
Sökning: SAB:Uccd > Semiconductor measu...
- 44 av 2684
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology Results of the Monte Carlo calculation of one- and two-dimensional distributions of particles and damage: ion implanted dopants in silicon /John Albers.
- BokEngelska1987
Förlag, utgivningsår, omfång ...
- Washington,1987
- 667 s.
Nummerbeteckningar
- LIBRIS-ID:99799
Kompletterande språkuppgifter
- Språk:engelska
Klassifikation
- DDC:537.622 028 7
- Uccdkssb/8 (machine generated)
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
- Albers, John (medarbetare)
- Results of the Monte Carlo calculation of one- and two-dimensional distributions of particles and damage: ion implanted dopants in silicon
Sammanhörande titlar
- Del av/supplement till:Semiconductor measurement technologyWashington, 1974-National Bureau of Standards special publication ; 400:1-
Till lärosätets databas
- 44 av 2684
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Albers, John
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
