UDK:53.08(021)
Sökning: UDK:53.08(021) > Semiconductor measu...
- 38 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program: TXYZ20 /John Albers.
- BokEngelska1992
Förlag, utgivningsår, omfång ...
- Washington,1992
- 29 s.
Nummerbeteckningar
- LIBRIS-ID:99811
Kompletterande språkuppgifter
- Språk:engelska
Klassifikation
- UDK:621.315.592(021)
- UDK:53.08(021)
- DDC:537.622 028 7
- Uccdkssb/8 (machine generated)
Serie
- NIST special publication,99-0824194-X ;400:8940089
Ämnesord och genrebeteckningar
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
- Albers, John (medarbetare)
- Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program: TXYZ20
Sammanhörande titlar
- Del av/supplement till:Semiconductor measurement technologyWashington, 1974-National Bureau of Standards special publication ; 400:1-
Seriebiuppslag
- NIST special publication,99-0824194-X ;400:8940089
Bibliotekens lokala klassifikation, anmärkningar och ämnesord
- L621.315.592(021)
- L53.08(021)
- LHalvledare: elektroteknik
- LMätteknik
Till lärosätets databas
- 38 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Albers, John
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
