UDK:53.08(021)
Sökning: UDK:53.08(021) > Semiconductor measu...
- 43 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology User's manual for the program MONSEL-1 : Monte Carlo simulation of SEM signals for linewidth metrology / Jeremiah R. Lowney and Egon Marx.
- Lowney, Jeremiah R. (medarbetare)
- Marx, Egon (medarbetare)
- Washington, 1994
- Engelska iv, 39 s.
- Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:95
- swepub:Mat__t
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Publikations- och innehållstyp
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
- 537.622 028 7 (DDC)
- Uccd (kssb/8 (machine generated))
Till lärosätets databas
- 43 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Lowney, Jeremiah ...
- Marx, Egon
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
