Semiconductor measurement technology ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975] : surface analysis for silicon devices

Sökning: onr:"99785" > Semiconductor measu...

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		01425cam a22003377a 4500
001		99785
003		SE-LIBR
005		20180604102444.0
008		011211s1976 xxu\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|100 0\|eng\|c
035		9 9902672655
040		a Te a
041		a eng
082	4	a 537.622 028 7
084		a QC 611
084		a TK 6650
084		a Uccd2 kssb/8 (machine generated)
245	1 0	a Semiconductor measurement technologyp ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975] : surface analysis for silicon devices /c A. George Lieberman [ed.].
264	1	a Washington,c 1976
300		a 239 s.b diagr., ill., tab.
599		a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer
700	1	a Lieberman, A. George4 edt
711	2	a ARPA/NBS workshopn (4 :d 1975)c Gaithersburg :
740	0	a ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975]
740	0	a Surface analysis for silicon devices
772	0 0	t Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 9900958608
887		a {"@id":"tb4pxt151pvc619","modified":"2018-06-04T10:24:44.587+02:00","checksum":"27666757275"}2 librisxl
841		5 Za x ab 020110\|\|0000\|\|\|\|4000\|\|\|\|\|\|000000e u
050	4	5 Za QC 611
050	4	5 Za TK 6650
852		5 Zb Z
887		5 Za {"@id":"049ld7150fzth7w","modified":"2019-05-08T11:09:07.98+02:00","checksum":"58078827315"}2 librisxl

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.