UDK:53.08(021)
Sökning: UDK:53.08(021) > Semiconductor measu...
- 25 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology A FORTRAN program for analysis of data from microelectronic test structures / Richard L. Mattis.
- Washington, 1983
- Engelska v, 40, 15 s.
- swepub:Mat__t
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Publikations- och innehållstyp
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
- 537.622 028 7 (DDC)
- P (kssb)
Till lärosätets databas
- 25 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
