Semiconductor measurement technology A FORTRAN program for analysis of data from microelectronic test structures

Sökning: UDK:53.08(021) > Semiconductor measu...

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		01588cam a22003977 4500
001		99796
003		SE-LIBR
005		20180604102444.0
008		011211s1983 xxu\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|000 0\|eng\|c
035		9 9904259143
040		a L
041		a eng
080		a 621.315.592(021)
080		a 53.08(021)
082	4	a 537.622 028 7
084		a P2 kssb
245	1 0	a Semiconductor measurement technologyp A FORTRAN program for analysis of data from microelectronic test structures /c Richard L. Mattis.
264	1	a Washington,c 1983
300		a v, 40, 15 s.
599		a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer
650	4	a Halvledare: elektroteknik
740	2	a A FORTRAN program for analysis of data from microelectronic test structures
772	0 0	t Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 9900958608
887		a {"@id":"6ph296dj4n91lpq","modified":"2018-06-04T10:24:44.656+02:00","checksum":"10098709761"}2 librisxl
841		5 La x ab 020110\|\|0000\|\|\|\|4000\|\|\|\|\|\|000000e u
080		5 La 621.315.592(021)
080		5 La 53.08(021)
084		5 La P2 kssb
650	4	5 La Halvledare: elektroteknik
650	4	5 La Mätteknik
650	4	5 La Mikroelektronik
650	4	5 La FORTRAN
852		5 Lb Lh pPj 3521:400
852		5 L8 1.1\cb Lh pPj 3521:, 400:75
866		5 La 1974-x Vissa delar specificerade
887		5 La {"@id":"jnt4xrkp509h3nz","modified":"2003-01-23T16:34:29+01:00","checksum":"42256019030"}2 librisxl

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.