UDK:53.08(021)
Sökning: UDK:53.08(021) > Semiconductor measu...
- 40 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology Evolution of silicon materials characterization : lessons learned for improved manufacturing /W. Murray Bullis.
- BokEngelska1993
Förlag, utgivningsår, omfång ...
- Washington,1993
- iv, 27 s., s. 201-211ill., diagr., tab.
Nummerbeteckningar
- LIBRIS-ID:99813
Kompletterande språkuppgifter
- Språk:engelska
Klassifikation
- UDK:621.315.592(021)
- UDK:53.08(021)
- DDC:537.622 028 7
- Uccdkssb/8 (machine generated)
Serie
- NIST special publication,99-0824194-X ;400:9240092
Ämnesord och genrebeteckningar
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
- Bullis, W. Murray (medarbetare)
- Evolution of silicon materials characterization
Sammanhörande titlar
- Del av/supplement till:Semiconductor measurement technologyWashington, 1974-National Bureau of Standards special publication ; 400:1-
Seriebiuppslag
- NIST special publication,99-0824194-X ;400:9240092
Bibliotekens lokala klassifikation, anmärkningar och ämnesord
- L621.315.592(021)
- L53.08(021)
- LHalvledare: elektroteknik
- LMätteknik
Till lärosätets databas
- 40 av 76
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Bullis, W. Murra ...
- Av lärosätet
- Swepub_uni:_t
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
