Semiconductor measurement technology Evolution of silicon materials characterization : lessons learned for improved manufacturing

Sökning: UDK:53.08(021) > Semiconductor measu...

LIBRIS Formathandbok (Information om MARC21)

Fältnamn	Indikatorer	Metadata
000		01737cam a22003977a 4500
001		99813
003		SE-LIBR
005		20180604102444.0
008		011211s1993 xxu\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|\|000 0\|eng\|c
035		9 9918323973
040		a Le a
041		a eng
080		a 621.315.592(021)
080		a 53.08(021)
082	4	a 537.622 028 7
084		a Uccd2 kssb/8 (machine generated)
245	1 0	a Semiconductor measurement technologyp Evolution of silicon materials characterization : lessons learned for improved manufacturing /c W. Murray Bullis.
264	1	a Washington,c 1993
300		a iv, 27 s., s. 201-211b ill., diagr., tab.
490	1	a NIST special publication,x 99-0824194-X ;v 400:929 4009 92
599		a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer
650	4	a Halvledare: elektroteknik
700	1	a Bullis, W. Murray4 oth
740	0	a Evolution of silicon materials characterization
772	0 0	t Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 9900958608
830	0	a NIST special publication,x 99-0824194-X ;v 400:929 4009 92
887		a {"@id":"r82mvr032rf37nv","modified":"2018-06-04T10:24:44.767+02:00","checksum":"34341191668"}2 librisxl
841		5 La x ab 020110\|\|0000\|\|\|\|4000\|\|\|\|\|\|000000e u
080		5 La 621.315.592(021)
080		5 La 53.08(021)
650	4	5 La Halvledare: elektroteknik
650	4	5 La Mätteknik
852		5 Lb Lh pPj 3521:400
852		5 L8 1.1\cb Lc 0200h pPj 3521:400:92
866		5 La 1974-x Vissa delar specificerade
887		5 La {"@id":"fkq1tnhl3c1k6zt","modified":"2003-01-23T16:34:33+01:00","checksum":"34432612970"}2 librisxl

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.