Sökning: SAB:Uccd > Semiconductor measu...
Fältnamn | Indikatorer | Metadata |
---|---|---|
000 | 01629cam a22003857a 4500 | |
001 | 99798 | |
003 | SE-LIBR | |
005 | 20180604102444.0 | |
008 | 011211s1986 xxu|||||||||||000 0|eng|c | |
035 | 9 9905936149 | |
040 | a Le a | |
041 | a eng | |
080 | a 621.315.592(021) | |
080 | a 53.08(021) | |
082 | 4 | a 537.622 028 7 |
084 | a Uccd2 kssb/8 (machine generated) | |
245 | 1 0 | a Semiconductor measurement technologyp Analytical analysis of ellipsometric errors /c Deane Chandler-Horowitz. |
264 | 1 | a Washington,c 1986 |
300 | a 32 s.b diagr. | |
599 | a Delarna fileras på huvudseriens subnummer. - Formatering: 245 g) ... w)=seriens subnummer | |
650 | 4 | a Halvledare: elektroteknik |
700 | 1 | a Chandler-Horowitz, Deane4 oth0 https://libris.kb.se/64jllf7q2k7jb10#it |
740 | 0 | a Analytical analysis of ellipsometric errors |
772 | 0 0 | t Semiconductor measurement technologyd Washington, 1974-k National Bureau of Standards special publication ; 400:1-w 9900958608 |
887 | a {"@id":"8rk4c8gl10qv7t1","modified":"2018-06-04T10:24:44.673+02:00","checksum":"64911407553"}2 librisxl | |
900 | 1 s | 6 700a Horowitz, Deane Chandleru Chandler-Horowitz, Deane |
841 | 5 La x ab 020110||0000||||4000||||||000000e u | |
080 | 5 La 621.315.592(021) | |
080 | 5 La 53.08(021) | |
650 | 4 | 5 La Halvledare: elektroteknik |
650 | 4 | 5 La Mätteknik |
852 | 5 Lb Lh pPj 3521:400 | |
852 | 5 L8 1.1\cb Lh pPj 3521:, 400:78 | |
866 | 5 La 1974-x Vissa delar specificerade | |
887 | 5 La {"@id":"mrx71vns3w89txl","modified":"2003-01-23T16:34:29+01:00","checksum":"20397811958"}2 librisxl |
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.