WFRF:(Rusu C)
Sökning: WFRF:(Rusu C) > Boron impurity at t...
- 48 av 50
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Boron impurity at the Si/SiO_{2} interface in SOI wafers and consequences for piezoresistive MEMS devices
-
- Svensson, Krister (författare)
- Karlstads universitet,Avdelningen för fysik och elektroteknik,Materialvetenskap
- Nafari, A (författare)
- Karlen, D (författare)
- visa fler...
- Rusu, C (författare)
- Eniksson, P (författare)
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- 2009
- 2009
- Engelska.
- Ingår i: Journal of Micromechanics and Microengineering. - 0960-1317 .- 1361-6439. ; 19:1, s. 1-6
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- NATURVETENSKAP -- Fysik (hsv//swe)
- NATURAL SCIENCES -- Physical Sciences (hsv//eng)
Nyckelord
- Physics
- Fysik
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- art (ämneskategori)
Hitta via bibliotek
- Journal of Micromechanics and Microengineering (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 48 av 50
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Svensson, Kriste ...
- Nafari, A
- Karlen, D
- Rusu, C
- Eniksson, P
- Om ämnet
-
- NATURVETENSKAP
- NATURVETENSKAP
- och Fysik
- Artiklar i publikationen
- Journal of Micro ...
- Av lärosätet
- Karlstads universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
