WFRF:(Nordell N)
Sökning: WFRF:(Nordell N) > Characterization of...
Characterization of electrically active deep level defects in 4H and 6H SiC
- Doyle, J P (författare)
- Aboelfotoh, M O (författare)
- Svensson, B G (författare)
- visa fler...
- Schoner, A (författare)
- Nordell, N (författare)
- visa färre...
- 1997
- 1997
- Engelska.
- Ingår i: Diamond and related materials. - 0925-9635 .- 1879-0062. ; 6:10, s. 1388-1391
- Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Hitta via bibliotek
- Diamond and related materials (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Doyle, J P
- Aboelfotoh, M O
- Svensson, B G
- Schoner, A
- Nordell, N
- Artiklar i publikationen
- Diamond and rela ...
- Av lärosätet
- Kungliga Tekniska Högskolan
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
