SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Dai Daoxin)
 

Sökning: WFRF:(Dai Daoxin) > Characteristic anal...

Characteristic analysis of nanosilicon rectangular waveguides for planar light-wave circuits of high integration

Dai, Daoxin (författare)
Shi, Yaocheng (författare)
He, Sailing (författare)
KTH,Elektroteknisk teori och konstruktion
 (creator_code:org_t)
2006
2006
Engelska.
Ingår i: Applied Optics. - 1559-128X .- 2155-3165. ; 45:20, s. 4941-4946
  • Tidskriftsartikel (refereegranskat)
Ämnesord
Stäng  

Nyckelord

silicon-on-insulator
roughness

Publikations- och innehållstyp

ref (ämneskategori)
art (ämneskategori)

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Hitta mer i SwePub

Av författaren/redakt...
Dai, Daoxin
Shi, Yaocheng
He, Sailing
Artiklar i publikationen
Applied Optics
Av lärosätet
Kungliga Tekniska Högskolan

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy