SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Khartsev Sergiy)
 

Sökning: WFRF:(Khartsev Sergiy) > Integration and Hig...

  • Ekström, MattiasKTH,Elektronik (författare)

Integration and High-Temperature Characterization of Ferroelectric Vanadium-Doped Bismuth Titanate Thin Films on Silicon Carbide

  • Artikel/kapitelEngelska2017

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2017-03-20
  • SPRINGER,2017
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:kth-210461
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-210461URI
  • https://doi.org/10.1007/s11664-017-5447-3DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • QC 20170706
  • 4H-SiC electronics can operate at high temperature (HT), e.g., 300A degrees C to 500A degrees C, for extended times. Systems using sensors and amplifiers that operate at HT would benefit from microcontrollers which can also operate at HT. Microcontrollers require nonvolatile memory (NVM) for computer programs. In this work, we demonstrate the possibility of integrating ferroelectric vanadium-doped bismuth titanate (BiTV) thin films on 4H-SiC for HT memory applications, with BiTV ferroelectric capacitors providing memory functionality. Film deposition was achieved by laser ablation on Pt (111)/TiO2/4H-SiC substrates, with magnetron-sputtered Pt used as bottom electrode and thermally evaporated Au as upper contacts. Film characterization by x-ray diffraction analysis revealed predominately (117) orientation. P-E hysteresis loops measured at room temperature showed maximum 2P (r) of 48 mu C/cm(2), large enough for wide read margins. P-E loops were measurable up to 450A degrees C, with losses limiting measurements above 450A degrees C. The phase-transition temperature was determined to be about 660A degrees C from the discontinuity in dielectric permittivity, close to what is achieved for ceramics. These BiTV ferroelectric capacitors demonstrate potential for use in HT NVM applications for SiC digital electronics.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Khartsev, SergiyKTH,Elektronik(Swepub:kth)u1barex4 (författare)
  • Östling, MikaelKTH,Elektronik(Swepub:kth)u1u0kle4 (författare)
  • Zetterling, Carl-Mikael,1966-KTH,Elektronik(Swepub:kth)u15o61ns (författare)
  • KTHElektronik (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Journal of Electronic Materials: SPRINGER46:7, s. 4478-44840361-52351543-186X

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy