L4X0:0284 0545
Sökning: L4X0:0284 0545 > The applications of...
The applications of secondary ion mass spectrometry for the investigation of dopant and matrix elements in CoSi2/Si structures
-
- Cardenas, Juan (författare)
- KTH,Elektroniksystemkonstruktion
- (creator_code:org_t)
- ISBN 9927222890
- Institutionen för elektronisk systemkonstruktion, 1998
- Engelska 62 s.
- Serie: Trita-FTE, 0284-0545 ; 9803
- Doktorsavhandling (övrigt vetenskapligt/konstnärligt)
Hitta via bibliotek
- The applications of secondary ion mass spectrometry for the investigation of dop... (Sök publikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Cardenas, Juan
- Delar i serien
- Trita-FTE,
- Av lärosätet
- Kungliga Tekniska Högskolan
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
