Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:kth-323631" >
EMC considerations ...
-
de Oliveira e Silva, Jose ClaudioAPTEMC, Sao Jose Dos Campos, Brazil.
(författare)
EMC considerations for JLRL direct lightning current measurement
- Artikel/kapitelEngelska2022
Förlag, utgivningsår, omfång ...
-
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE),2022
-
printrdacarrier
Nummerbeteckningar
-
LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:kth-323631
-
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-323631URI
-
https://doi.org/10.1109/ICLP56858.2022.9942549DOI
Kompletterande språkuppgifter
-
Språk:engelska
-
Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
Klassifikation
-
Ämneskategori:ref swepub-contenttype
-
Ämneskategori:kon swepub-publicationtype
Anmärkningar
-
Part of proceedings: ISBN 978-1-6654-9024-5, QC 20230208
-
In this paper the electromagnetic compatibility (EMC) considerations made to the direct lightning current measuring system that is part of the Johannesburg Lightning Research Laboratory (JLRL) are presented. The output voltages from two series connected shunts and the sending of their analog signals downward a tower to the measuring system, makes this measuring setup particularly critical regarding immunity against the strong effects of the lightning current.
Ämnesord och genrebeteckningar
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
-
Schumann, CarinaUniv Witwatersrand, Sch Elect & Informat Engn, Johannesburg, South Africa.
(författare)
-
Hunt, Hugh G. P.Univ Witwatersrand, Sch Elect & Informat Engn, Johannesburg, South Africa.
(författare)
-
Saba, Marcelo M. F.Natl Inst Space Res INPE, Sao Jose Dos Campos, Brazil.
(författare)
-
Becerra Garcia, Marley,1979-KTH,Elektroteknisk teori och konstruktion(Swepub:kth)u1889hfb
(författare)
-
APTEMC, Sao Jose Dos Campos, Brazil.Univ Witwatersrand, Sch Elect & Informat Engn, Johannesburg, South Africa.
(creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
-
Ingår i:2022 36Th International Conference On Lightning Protection (ICLP 2022): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), s. 26-31
Internetlänk