WFRF:(Attard G.)
Sökning: WFRF:(Attard G.) > Analysis of atomic ...
- 14 av 18
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Analysis of atomic force microscopy data for deformable materials
-
- Rutland, Mark, 1965- (författare)
- RISE,YKI – Ytkemiska institutet
- Tyrrell, James W. G. (författare)
- Attard, Phil (författare)
- (creator_code:org_t)
- Leiden-Boston : VSP, 2005
- 2005
- Engelska.
- Ingår i: Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies. - Leiden-Boston : VSP. - 9789047416463 ; , s. 155-171
- Bokkapitel (refereegranskat)
Hitta via bibliotek
- Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 14 av 18
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Rutland, Mark, 1 ...
- Tyrrell, James W ...
- Attard, Phil
- Artiklar i publikationen
- Atomic Force Mic ...
- Av lärosätet
- Kungliga Tekniska Högskolan
- RISE
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
