SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

(WFRF:(Rudra Alok))
 

Sökning: (WFRF:(Rudra Alok)) > Structure of the wa...

  • Sagalowicz, LaurentInstitut de Micro et Optoelectronique, Département de Physique, Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, Lausanne, 1015, Switzerland (författare)

Structure of the wafer fused InP (001)-GaAs (001) interface

  • Artikel/kapitelEngelska1997

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Informa UK Limited,1997
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:kth-83027
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-83027URI
  • https://doi.org/10.1080/095008397178887DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • References: Amelinckx, S., (1956) Phil. Mag., 1, p. 269; Balluffi, R.W., Saas, S.L., Schober, T., (1972) Phil. Mag., 26, p. 585; Benamara, M., Rocher, A., Laporte, A., Sarrabayrousse, G., LescouzÚres, L., Peyrelavigne, A., (1995) Microscopy of Semiconducting Materials 1995, Inst. Phys. Conf. Ser., 146. , Bristol: Institute of Physics; Bollmann, W., (1970) Crystal Defects and Crystalline Interfaces, , Berlin: Springer-Verlag; Hirsch, P., Howie, A., Nicholson, R.B., Whelan, M.J., Pashley, D.W., (1965) Electron Microscopy of Thin Crystals, , New York: Krieger; Kang, J.M., Nouaoura, M., LassabatÚre, L., Rocher, A., (1994) J. Cryst. Growth, 143, p. 115; Komninou, P., Stoemenos, G., Dimitrakopoulos, G.P., Karakostas, T., (1994) J. Appl. Phys., 75, p. 143; Lo, Y.H., Bhat, R., Hwang, D.M., Koza, M.A., Lee, T.P., (1991) Appl. Phys. Lett., 58, p. 1961; Okuno, Y., Uomi, K., Aoki, M., Taniwatari, T., Susuki, M., Kondow, M., (1995) Appl. Phys. Lett., 66, p. 451; Patriarche, G., JeannÚs, F., Oudar, J.L., Glas, F., (1997) Microscopy of Semiconducting Materials 1997, Inst. Phys. Conf. Ser., 157. , (Bristol: Institute of Physics) (to be published); Ram, R.J., Dudley, J.J., Bowers, J.E., Yang, L., Carey, K., Rosner, S.J., Nauka, K., (1995) J. App. Phys., 78, p. 4227; Sagalowicz, L., Jouneau, P.H., Rudra, A., Syrbu, V., Kapon, E., (1997) Boundaries and Interfaces in Materials, TMS Conf. Proc., , (The Materials Society) (to be published); Salomonson, F., Streusel, K., Bentell, J., Hammar, M., Keiper, D., Westphalen, R., Piprek, J., Behrend, J., (1997) J. Appl. Phys., , in the press; Shieu, F.S., Saas, L., (1990) Acta Metall. Mater., 9, p. 1653; Syrbu, A.V., Fernandez, J., Behrend, J., Berseth, C.A., Carlin, J.F., Rudra, A., Kapon, E., (1997) Electron. Lett., 33, p. 866; Thomson, N., (1953) Proc. Phys. Soc. B, 66, p. 481; Wada, H., Ogawa, Y., Kamijoh, T., (1993) Appl. Phys. Lett., 62, p. 738; Zhu, J.G., Carter, C.B., (1990) Phil. Mag. A, 62, p. 319 NR 20140805
  • A structural study of wafer fused InP-GaAs interfaces has been carried out. The geometry of the dislocation network which accommodates the twist and the lattice mismatch is first given using a geometrical approach. Cross-sectional transmission electron microscopy and plan view observations are presented. Two different misfit cases are observed. (1) When no twist is present, the 3.7% lattice mismatch is relaxed by a regular square network of dislocations with pure edge character. (2) When an additional twist is present, a square network of dislocations results as well but here the dislocations have a mixed character; 60° dislocations are also observed, some form closed defect circuits and others very likely accommodate a small tilt. The interaction between the 60° dislocations and the edge dislocations is explained in detail. Voids or inclusions are also observed as well as additional dislocations which may accommodate part of the thermal mismatch. © 1997 Taylor & Francis Ltd.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Rudra, Alok P.Institut de Micro et Optoelectronique, Département de Physique, Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, Lausanne, 1015, Switzerland (författare)
  • Syrbu, Alexei V.Institut de Micro et Optoelectronique, Département de Physique, Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, Lausanne, 1015, Switzerland (författare)
  • Behrend, J.Institut de Micro et Optoelectronique, Département de Physique, Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, Lausanne, 1015, Switzerland (författare)
  • Salomonsson, FredrikKTH,Elektronik(Swepub:kth)PI0000000 (författare)
  • Streubel, Klauss P.KTH,Elektronik(Swepub:kth)PI0000000 (författare)
  • Hammar, Mattias,1961-KTH,Elektronik(Swepub:kth)u1jfzgcj (författare)
  • Bentell, JonasKTH,Elektronik(Swepub:kth)u1wsxmny (författare)
  • Institut de Micro et Optoelectronique, Département de Physique, Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, Lausanne, 1015, SwitzerlandElektronik (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Philosophical Magazine Letters: Informa UK Limited76:6, s. 445-4520950-08391362-3036

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy