WFRF:(Chubarov M.)
Sökning: WFRF:(Chubarov M.) > Characterization of...
Characterization of Boron Nitride Thin Films
-
- Chubarov, M. (författare)
- Linköpings universitet,Institutionen för fysik, kemi och biologi,Tekniska högskolan
-
- Pedersen, Henrik (författare)
- Linköpings universitet,Kemi,Tekniska högskolan
-
- Högberg, Hans (författare)
- Linköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska högskolan
- visa fler...
- visa färre...
- (creator_code:org_t)
- IEEE, 2013
- 2013
- Engelska.
- Konferensbidrag (refereegranskat)
Abstract
Ämnesord
Stäng
- Rhombohedral Boron Nitride layers were grown on sapphire substrate in a hot-wall CVD reactor. The characterization of those layers is reported and the results are discussed in correlation with the various growth parameters used.
Nyckelord
- TECHNOLOGY
- TEKNIKVETENSKAP
Publikations- och innehållstyp
- ref (ämneskategori)
- kon (ämneskategori)
Till lärosätets databas
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Chubarov, M.
- Pedersen, Henrik
- Högberg, Hans
- Filippov, Stanis ...
- Engelbrecht, J.A ...
- O'Connel, J.
- visa fler...
- Henry, Anne
- visa färre...
- Av lärosätet
- Linköpings universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
