SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-120046"
 

Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-120046" > Correlation between...

  • Khromov, SergeyLinköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska högskolan (författare)

Correlation between switching to n-type conductivity and structural defects in highly Mg-doped InN

  • Artikel/kapitelEngelska2015

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • American Institute of Physics (AIP),2015
  • electronicrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:liu-120046
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-120046URI
  • https://doi.org/10.1063/1.4922301DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:art swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • Funding Agencies|Swedish Research Council (VR) [2008-405, 2012-4359, 2013-5580, 642-2013-8020]; ERC [258509]; Swedish Governmental Agency for Innovation Systems (VINNOVA) under the VINNMER international qualification program [2011-03486]; Swedish Foundation for Strategic Research (SSF) [FFL12-0181]; National Basic Research Program of China [2012CB619300]; National Natural Science Foundation of China [61225019, 61376060]
  • The effect of Mg doping on the microstructure of InN epitaxial films in relation to their free-charge carrier properties has been investigated by transmission electron microscopy (TEM) and aberration corrected scanning TEM. We observe a direct correlation between Mg concentration and the formation of stacking faults. The threading dislocation density is found to be independent of Mg concentration. The critical Mg concentration for the on-set of stacking faults formation is determined and found to correlate with the switch from p- to n-type conductivity in InN. Potential mechanisms involving stacking faults and point defect complexes are invoked in order to explain the observed conductivity reversal. Finally, the stacking faults are structurally determined and their role in the reduction of the free electron mobility in highly doped InN: Mg is discussed. (C) 2015 AIP Publishing LLC.

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Persson, Per O ALinköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska fakulteten(Swepub:liu)perpe25 (författare)
  • Wang, X.Peking University, Peoples R China (författare)
  • Yoshikawa, A.Chiba University, Japan (författare)
  • Monemar, BoLinköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska fakulteten(Swepub:liu)bomo46 (författare)
  • Rosén, JohannaLinköpings universitet,Tunnfilmsfysik,Tekniska fakulteten(Swepub:liu)johro07 (författare)
  • Janzén, ErikLinköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska fakulteten(Swepub:liu)erija14 (författare)
  • Darakchieva, VanyaLinköpings universitet,Halvledarmaterial,Tekniska fakulteten(Swepub:liu)vanda79 (författare)
  • Linköpings universitetHalvledarmaterial (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Applied Physics Letters: American Institute of Physics (AIP)106:230003-69511077-3118

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy