Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:liu-30148" >
Direct experimental...
-
Andersson, Stefan,1975-Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Elektroniska komponenter
(författare)
Direct experimental verification of shot noise in short channel MOS transistors
- Artikel/kapitelEngelska2005
Förlag, utgivningsår, omfång ...
-
Institution of Engineering and Technology (IET),2005
-
printrdacarrier
Nummerbeteckningar
-
LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:liu-30148
-
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-30148URI
-
https://doi.org/10.1049/el:20051474DOI
Kompletterande språkuppgifter
-
Språk:engelska
-
Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
Klassifikation
-
Ämneskategori:ref swepub-contenttype
-
Ämneskategori:art swepub-publicationtype
Anmärkningar
-
Drain noise current was measured at an extended temperature range on n-MOS transistors of various lengths made in a 0.18 urn process. A comparison with theoretical noise models strongly indicates the mechanism of shot noise produced near the source by diffusion currents, as proposed by Obrecht et al. © IEE 2005.
Ämnesord och genrebeteckningar
-
experimental verification
-
shot noise
-
short channel MOS
-
TECHNOLOGY
-
TEKNIKVETENSKAP
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
-
Svensson, Christer,1941-Linköpings universitet,Tekniska högskolan,Elektroniska komponenter(Swepub:liu)chrsv76
(författare)
-
Linköpings universitetTekniska högskolan
(creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
-
Ingår i:Electronics Letters: Institution of Engineering and Technology (IET)41:15, s. 869-8710013-51941350-911X
Internetlänk
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas