SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

L773:0042 207X
 

Sökning: L773:0042 207X > Characterisation of...

  • Wronkowska, A.A.Institute of Mathematics and Physics, University of Technology and Agriculture, ul. Kaliskiego 7, 85-796 Bydgoszcz, Poland (författare)

Characterisation of Cd1-xMgxSe solid solutions by spectroscopic ellipsometry

  • Artikel/kapitelEngelska2001

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2001
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:liu-47323
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-47323URI
  • https://doi.org/10.1016/S0042-207X(01)00197-XDOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:vet swepub-contenttype
  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • Optical properties of bulk Cd1-xMgxSe mixed crystals, grown from a CdSe, Mg, and Se melt by the Bridgman method, are presented. The alloys have a wurtzite type structure in the investigated range of composition, i.e. for 0 = x = 0.4. Measurements of the complex pseudo-dielectric function, = + ie2(?)>, were performed at room temperature in the photon energy range of 1.25-4.5 eV, using a computer-controlled variable angle of incidence ellipsometer. The spectral dependence of the effective refractive index and the absorption coefficient were also derived. The structure observed in the dielectric functions, attributed to the interband transitions E0, E0 + ?0 and E1, have been analysed by fitting the and d2/d?2 spectra to the damped harmonic oscillator and critical-point line shapes, respectively. For all critical points, the energy increases with increasing Mg concentration. The ellipsometric results of a fundamental band-gap shift due to Mg content are compared with the rate of increase of the excitonic energy, derived from photoluminescence spectra. © 2001 Elsevier Science Ltd.

Ämnesord och genrebeteckningar

  • Dielectric function
  • II-VI semiconductors
  • Photoluminescence
  • Spectroscopic ellipsometry
  • TECHNOLOGY
  • TEKNIKVETENSKAP

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Wronkowski, A.Institute of Mathematics and Physics, University of Technology and Agriculture, ul. Kaliskiego 7, 85-796 Bydgoszcz, Poland (författare)
  • Arwin, HansLinköpings universitet,Tekniska högskolan,Tillämpad optik(Swepub:liu)hanar75 (författare)
  • Firszt, F.Institute of Physics, Nicholas Copernicus University, Torun, Poland (författare)
  • Legowski, S.L?gowski, S., Institute of Physics, Nicholas Copernicus University, Torun, Poland (författare)
  • Meczynska, H.M?czynska, H., Institute of Physics, Nicholas Copernicus University, Torun, Poland (författare)
  • Szatkowski, J.Institute of Physics, Nicholas Copernicus University, Torun, Poland (författare)
  • Institute of Mathematics and Physics, University of Technology and Agriculture, ul. Kaliskiego 7, 85-796 Bydgoszcz, PolandTekniska högskolan (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Vacuum63:1-2, s. 233-2390042-207X1879-2715

Internetlänk

Hitta via bibliotek

  • Vacuum (Sök värdpublikationen i LIBRIS)

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy