Sökning: id:"swepub:oai:DiVA.org:ltu-13241" >
Roughness determina...
-
Almqvist, NilsLuleå tekniska universitet,Materialvetenskap
(författare)
Roughness determination of plasma-modified surface layers with atomic force microscopy
- Artikel/kapitelEngelska1995
Förlag, utgivningsår, omfång ...
Nummerbeteckningar
-
LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:ltu-13241
-
https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ltu:diva-13241URI
-
https://doi.org/10.1016/0040-6090(95)06933-XDOI
Kompletterande språkuppgifter
-
Språk:engelska
-
Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
Klassifikation
-
Ämneskategori:ref swepub-contenttype
-
Ämneskategori:art swepub-publicationtype
Anmärkningar
-
Godkänd; 1995; Bibliografisk uppgift: 22nd International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films; 20070409 (ysko)
-
Graphite surfaces exposed to the deuterium plasma in the TEXTOR tokamak were characterized in detail by means of scanning probe microscopy, ion beam analysis and colorimetry methods. The aim is to study the composition and structure of thin layer deposits formed on surfaces subjected to the tokamak plasma. The surface roughness was measured and parametrized in terms of fractal dimension and scaling constant. Several different methods for the fractal analysis of plasma-exposed surfaces have been critically evaluated. The main emphasis of this paper is on the correlation between surface roughness (fractal parameters), the amount of deposited atoms and the layer thickness.
Ämnesord och genrebeteckningar
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
-
Rubel, M.Royal Institute of Technology, Physics Department-Frescati, Association EURATOM-NFR
(författare)
-
Wienhold, P.Institute of Plasma Physics, Forschungszentrum Jülich, Association EURATOM-KFA
(författare)
-
Fredriksson, Sverker
(författare)
-
Luleå tekniska universitetMaterialvetenskap
(creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
-
Ingår i:Thin Solid Films270:1-2, s. 426-4300040-60901879-2731
Internetlänk
Hitta via bibliotek
Till lärosätets databas