onr:"swepub:oai:DiVA.org:ltu-2837"
Sökning: onr:"swepub:oai:DiVA.org:ltu-2837" > Testing against a c...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
- Klefsjö, BengtLuleå tekniska universitet,Industriell Ekonomi (författare)
Testing against a change in the NBUE property
- Artikel/kapitelEngelska1989
Förlag, utgivningsår, omfång ...
- Elsevier BV,1989
- printrdacarrier
Nummerbeteckningar
- LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:ltu-2837
- https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ltu:diva-2837URI
- https://doi.org/10.1016/0026-2714(89)90346-6DOI
Kompletterande språkuppgifter
- Språk:engelska
- Sammanfattning på:engelska
Ingår i deldatabas
- SwePubSwePub
Klassifikation
Anmärkningar
- Godkänd; 1989; 20070124 (keni)
- A life distribution F with survival function F=1-F, finite mean μ and mean residual life e(t) is said to be NBUE (NWUE) if e(t)⩽(⩾)μ for t⩾0. This NBUE (NWUE) property can equivalently be characterized by the fact that φ(u)⩽(⩾)u for 0⩽u⩽1, where φ(u) is the scaled TTT-transform of F. A generalization of the NBUE and NWUE properties is that there is a value of s such that φ(u)⩾u for 0⩽u⩽p and φ(u)⩽u for p⩽u⩽1, or vice versa. This means a trend change in the NBUE property. This generalized aging property is called the NBUE-NWUE property. In this paper the authors present and study a test statistic intended for testing exponentiality (i.e. φ(u)=u for 0⩽u⩽1) against this NBUE-NWUE property. The asymptotic normality of the test statistic, suitably normalized, is established and a simulation study is presented (20 refs.)
Ämnesord och genrebeteckningar
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER Maskinteknik Tillförlitlighets- och kvalitetsteknik hsv//swe
- ENGINEERING AND TECHNOLOGY Mechanical Engineering Reliability and Maintenance hsv//eng
- Kvalitetsteknik
- Quality Technology and Management
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
- Luleå tekniska universitetIndustriell Ekonomi (creator_code:org_t)
Sammanhörande titlar
- Ingår i:Microelectronics and reliability: Elsevier BV29:4, s. 559-5700026-27141872-941X
Internetlänk
Hitta via bibliotek
- Microelectronics and reliability (Sök värdpublikationen i LIBRIS)
Till lärosätets databas
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Hitta mer i SwePub
- Av författaren/redakt...
- Klefsjö, Bengt
- Om ämnet
-
- TEKNIK OCH TEKNOLOGIER
- TEKNIK OCH TEKNO ...
- och Maskinteknik
- och Tillförlitlighet ...
- Artiklar i publikationen
- Microelectronics ...
- Av lärosätet
- Luleå tekniska universitet
Sök utanför SwePub
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
- Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
- LIBRIS.kb.se
