SwePub
Sök i LIBRIS databas

  Utökad sökning

WFRF:(Krieger Michael)
 

Sökning: WFRF:(Krieger Michael) > Reduction of densit...

  • Sledziewski, TomaszLehrstuhl für Angewandte Physik, Germany (författare)

Reduction of density of 4H-SiC/SiO2 interface traps by pre-oxidation phosphorus implantation

  • Artikel/kapitelEngelska2014

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • 2014
  • printrdacarrier

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:oai:DiVA.org:ri-35508
  • https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ri:diva-35508URI
  • https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.778-780.575DOI

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska
  • Sammanfattning på:engelska

Ingår i deldatabas

Klassifikation

  • Ämneskategori:ref swepub-contenttype
  • Ämneskategori:kon swepub-publicationtype

Anmärkningar

  • The effect of phosphorus (P) on the electrical properties of the 4H-SiC/SiO2 interface was investigated. Phosphorus was introduced by surface-near ion implantation with varying ion energy and dose prior to thermal oxidation. Secondary ion mass spectrometry revealed that only part of the implanted P followed the oxidation front to the interface. A negative flatband shift due to residual P in the oxide was found from C-V measurements. Conductance method measurements revealed a significant reduction of density of interface traps Dit with energy EC-Eit > 0.3 V for P+-implanted samples with [P]interface = 1.5 · 1018 cm-3 in the SiC layer at the interface. .

Ämnesord och genrebeteckningar

  • Conductance method
  • Interface traps
  • Mos interface
  • Phosphorus ion implantation
  • Electric properties
  • Ion implantation
  • Oxidation
  • Secondary ion mass spectrometry
  • Silicon carbide
  • C-V measurement
  • Implanted samples
  • Oxidation front
  • Phosphorus ion implantations
  • Thermal oxidation
  • Phosphorus

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Mikhaylov, Aleksey I.RISE,Acreo,SPbETU 'LETI', Russia (författare)
  • Reshanov, Sergey A.Ascatron, Sweden (författare)
  • Schöner, AdolfRISE,Acreo,Ascatron, Sweden (författare)
  • Weber, Heiko B.Lehrstuhl für Angewandte Physik, Germany (författare)
  • Krieger, MichaelLehrstuhl für Angewandte Physik, Germany (författare)
  • Lehrstuhl für Angewandte Physik, GermanyAcreo (creator_code:org_t)

Sammanhörande titlar

  • Ingår i:Materials Science Forum, s. 575-5789783038350101

Internetlänk

Hitta via bibliotek

Till lärosätets databas

Sök utanför SwePub

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy